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    新書速遞|《光學光刻和極紫外光刻》:系統解讀光刻技術,支持“摩爾定律”的延續

    發布時間:2022-11-24 10:19:08     發布者:市場部    閱讀數次:142


        在當今信息化發展的大趨勢下,芯片已然成為“剛需品”。盡管芯片的體積很小,卻無處不在,它關系到社會的各個領域,被稱為信息社會的基石和心臟。 

        光刻機是制造芯片最核心的裝備,由光刻機完成的光刻工藝是芯片制程的最關鍵環節?!肮饪碳夹g”則是一個更寬泛的概念,它是實現光刻工藝所需要的各種技術的總稱。

        先進的光刻技術是世界上最精密的光學系統與精心設計、高度優化的光化學材料及精密加工工藝的結合,它驅動了芯片的納米尺度不斷縮小,芯片上晶體管密度不斷提高,保證了“摩爾定律”不斷延續,從而推動整個信息社會的發展。

                

                                一本系統解讀光刻技術的最新專著

                                引進自國際光學工程學會(SPIE

                             

                               國際光刻技術研發領軍人物愛德曼最新力作

                                光刻技術權威專家高偉民博士領銜翻譯

                                    []安迪?愛德曼 著

                                  高偉民 徐東波 諸波爾 譯

                                     上??茖W技術出版社

                                   ISBN: 978-7-5478-5720-5

                                      定價:195.00

    內容簡介:

       本書是一本最新的光刻技術專著,內容涉及該領域的各個重要方面。在介紹光刻技術應用上,涵蓋了全面又豐富的內容;在論述光刻技術的物理機制和數學模型時,采用了完整而不煩瑣的方法,增加了可讀性。本書在系統地闡述光學光刻技術的基本內容后,還專門開辟章節,介紹了最先進的極紫外光刻技術的特點和難點,揭示了極紫外光刻的技術奧秘。本書具有全面、完整、翔實和新穎的特點,它凝聚了作者在光刻領域三十多年科研和教學的精華。

    著譯者信息:

                      

                              安迪?愛德曼

    ?國際光學工程學會(SPIE)會士,長期從事光刻技術研發的代表性領軍人物

    ?德國弗勞恩霍夫協會(Fraunhofer)下屬集成系統和元器件技術研究所(IISB)計算光刻和光學部門的負責人

    ?埃朗根大學(University of Erlangen)的客座教授、國際Fraunhofer光刻仿真研討會的組織者

    ?擁有25年以上的光學光刻和極紫外光刻的研究經驗,為多個先進光刻仿真軟件的發展做出了關鍵貢獻,其中包括光刻仿真軟件Dr. LiTHO的研發

                      

                               高偉民

    ?資深的光刻技術專家

    ?阿斯麥公司(ASML)中國區技術總監

    ?曾任職于比利時微電子研發中心(IMEC)和美國新思科技(Synopsys

    ?專注先進光刻技術研發20多年,擁有16年極紫外光刻技術研發的豐富經驗

    ?技術專長涵蓋了廣泛的光刻領域,包括光刻工藝開發、成像技術、分辨率增強技術、計算光刻、先進掩模和設計工藝協同優化技術(DTCO)等

                      

                                徐東波

    ?比利時微電子研發中心(IMEC)研究員,博士攻讀于德國埃朗根弗勞恩霍夫(Fraunhofer IISB)計算光刻和光學小組

    ?研究方向包括光學光刻和極紫外光刻仿真、光源掩模協同優化(SMO)、光學鄰近效應校正(OPC)建模及圖像處理

                      

                                諸波爾

    ?阿斯麥公司(ASML)中國區計算光刻高級工程師、項目主管

    ?擁有0.18μm7nm全節點計算光刻研發經驗,掌握光源掩模協同優化(SMO)和光學鄰近效應校正(OPC)建模在各制程節點中的應用與優化技術

    ?研究方向還包括光學光刻和極紫外光刻仿真、光源掩模協同優化(SMO)、光學鄰近效應校正(OPC)建模及圖像處理

    本書亮點:

              

       全——本書是一本系統解讀光學光刻技術的最新專著,涵蓋了該領域的各個重要方面,內容全面且豐富;平衡了理論的深度和內容的廣度,有基礎理論的推演,也有應用實例的分析。

       精——本書凝聚了作者在光刻領域三十多年科研和教學的精華,對于從事芯片領域的專業技術人員,這是一本手冊性的內容豐富的參考書。

       新——介紹了光刻技術的最新發展,在論述光刻技術的共性內容后,也較為詳細地介紹了最先進的極紫外光刻技術的特點和難點,從理論上揭示了極紫外光刻的技術奧秘。

    讀者對象:

    芯片制造、半導體設備、光刻技術等相關方面的技術和管理人員

    集成電路、微納電子、光電工程等專業本科生

    短波光學、激光與物質相互作用、激光等離子體、極紫外光輻射等領域的研究生和專業研究人員

                       

                

                         









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